當(dāng)前位置:廣東愛(ài)佩試驗(yàn)設(shè)備有限公司>>冷熱沖擊箱>> 3AP-CJ-27A快速高低溫沖擊試驗(yàn)箱
快速高低溫沖擊試驗(yàn)箱目的:溫度沖擊試驗(yàn)?zāi)康氖强疾毂辉嚇悠吩谕蝗辉獾綔囟葎×易兓瘯r(shí)之抵抗能力及適應(yīng)能力的試驗(yàn)高低溫沖擊試驗(yàn)主要用于考察剪切和疲勞損傷引起的失效。特別在元器件存在虛弱部位具有開(kāi)路隱患時(shí),或由于元器件材料和結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)不當(dāng)具有開(kāi)裂隱患時(shí),高低溫沖擊試驗(yàn)具有較好的鑒別效果。該實(shí)驗(yàn)一般用溫度沖擊試驗(yàn)箱。
一、產(chǎn)品名稱(chēng)三箱冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)(風(fēng)冷式)
二、產(chǎn)品型號(hào)3AP-CJ-80A
三、控制儀表愛(ài)佩自主研發(fā)的7英寸超大觸摸AP-950可程序溫度控制器全觸摸屏控制器,觸摸屏輸入,根據(jù)客戶(hù)要求可任意設(shè)定不同高低溫沖擊溫度點(diǎn),滿(mǎn)足做測(cè)試的不同需求.(具有溫度報(bào)警顯示、實(shí)時(shí)溫度曲線顯示)
四、設(shè)備用途廣泛用于電子電器零組件塑膠等行業(yè)、自動(dòng)化零部件、通訊組件、汽車(chē)配件、金屬、化學(xué)材料、塑料等行業(yè),國(guó)防工業(yè)、航天、兵工業(yè)、BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶磁及高分子材料之物理性變化進(jìn)行試驗(yàn),用來(lái)測(cè)試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料,在瞬間下經(jīng)高溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度,藉以在最短時(shí)間內(nèi)試驗(yàn)其熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理變化。
五、三箱特點(diǎn)1、三箱設(shè)備區(qū)分為高溫區(qū)、低溫區(qū)、測(cè)試區(qū)三部分,測(cè)試樣品*靜止于測(cè)試區(qū)。采用特之蓄熱、蓄冷結(jié)構(gòu),強(qiáng)制冷熱風(fēng)路切換方式導(dǎo)入測(cè)試區(qū),沖擊時(shí)高溫區(qū)或低溫區(qū)的溫度沖入測(cè)試區(qū)進(jìn)行沖擊,完成冷熱溫度沖擊測(cè)試。
2、可獨(dú)立設(shè)定高溫、低溫及冷熱沖擊三種不同條件之功能,執(zhí)行冷熱沖擊條件時(shí),可選擇2箱或3箱之功能并具有高低溫試驗(yàn)機(jī)的功能,相比于2箱沖擊它還可選擇做常溫沖擊。
六、容積、尺寸和重量
6.1.內(nèi)容積80L
6.2.內(nèi)箱尺寸400*500*400mm (W* H *D)
6.3.外型尺寸(約)1500*1800*1600mm (W* H *D)
6.4.重 量約900㎏
七、快速高低溫沖擊試驗(yàn)箱性能指標(biāo)
7.1.測(cè)試環(huán)境條件機(jī)器周?chē)h(huán)境溫度維持在5~+30℃之間,相對(duì)濕度:≤85%;氣壓:86kPa~106kPa正常大氣壓力。
7.2.滿(mǎn)足標(biāo)準(zhǔn) .GB/T2423.1-2008 低溫試驗(yàn)方法Test method of low tempemture test
·GB/T2423.2-2008 高溫試驗(yàn)方法Test method of high temperature test
·GB/T2423.22-2012 溫度變化試驗(yàn)Test of temperature chantge
·GJB150.5-86溫度沖擊試驗(yàn)Test of temperature shock
·GJB360.7-87溫度沖擊試驗(yàn)Test of temperature shock
·GJB367.2-87溫度沖擊試驗(yàn)Test of temperature shock
·QC/T17-92、EIA364-32、IEC68-2-14等
7.3.測(cè)試室溫度范圍-45℃~+150 ℃ (風(fēng)冷式)
7.3.1.低溫沖擊范圍-10℃~-45 ℃
7.3.2.高溫沖擊范圍60℃~150 ℃
7.4.高溫室
7.4.1.預(yù)熱溫度范圍RT~+165℃
7.4.2.升溫時(shí)間
+50℃→+165 ≤30min
注:升溫時(shí)間為高溫室單獨(dú)運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)的性能
7.5.低溫室
7.5.1.預(yù)冷溫度范圍RT~-55℃
7.5.2.降溫時(shí)間+20℃ → -55℃≤約60min
注:降溫時(shí)間為低溫室單獨(dú)運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)的性能
7.6.試驗(yàn)室(試樣區(qū))
7.6.1.試驗(yàn)方式采用特之蓄熱、蓄冷結(jié)構(gòu),強(qiáng)制冷熱風(fēng)路切換方式導(dǎo)入測(cè)試區(qū),沖擊時(shí)高溫區(qū)或低溫區(qū)的溫度沖入測(cè)試區(qū)進(jìn)行沖擊,完成冷熱溫度沖擊測(cè)試。
7.6.2.溫度波動(dòng)度±0.5℃
7.6.3.溫度偏差±2.0℃
7.6.4.溫度恢復(fù)時(shí)間3~5min;轉(zhuǎn)換溫度只需要≤10s(風(fēng)門(mén)開(kāi)啟時(shí)間:5秒以?xún)?nèi))
7.7.沖擊暴露時(shí)間≥30min
八、結(jié)構(gòu)特征
8.1.保溫圍護(hù)結(jié)構(gòu)外壁材料:外材質(zhì)可選SUS304優(yōu)質(zhì)不銹鋼或者精粉體烤漆處理。
內(nèi)壁材料:內(nèi)板材質(zhì)為優(yōu)質(zhì)SUS304不銹鋼,具有良好的耐蝕性、耐熱性,低溫強(qiáng)度和機(jī)械特性;沖壓、彎曲等熱加工性好,無(wú)熱處理硬化現(xiàn)象(無(wú)磁性,使用溫度-196℃~800℃)
箱體保溫材料:硬質(zhì)聚氨酯泡沫(它的優(yōu)勢(shì)分別是:
1.高效節(jié)能,填充后無(wú)縫隙,固化后粘結(jié)強(qiáng)固。
2.防震抗壓,固化后不開(kāi)裂,不腐化,不脫落。
3.具有超低溫?zé)醾鲗?dǎo)率,耐候保溫。
4.高效絕緣,隔音,固化后防水防潮。
5.防水性能好,因?yàn)榕菽资欠忾]的,封閉率達(dá)95% ,雨水不會(huì)從孔間滲過(guò)去。)
8.2.空氣調(diào)節(jié)通道風(fēng)機(jī)、加熱器、蒸發(fā)器、風(fēng)門(mén)、溫度傳感器
8.3.試驗(yàn)箱體標(biāo)準(zhǔn)配置引線孔(選購(gòu)):1個(gè),位于箱體左側(cè)面,大小φ50mm圓孔(如有需要下單時(shí)麻煩客戶(hù)說(shuō)明)
試樣擱架:1套,共二層(配掛鉤四只)承重25KG(更大承重請(qǐng)下單時(shí)注明)
8.4.調(diào)整腳與調(diào)整輪調(diào)整腳:4個(gè),支撐試驗(yàn)箱用;
調(diào)整輪:4個(gè),移動(dòng)試驗(yàn)箱用。
8.5.試驗(yàn)箱門(mén)單開(kāi),左鉸鏈,右把手
8.6.循環(huán)風(fēng)機(jī)
高溫/環(huán)溫曝露
低溫曝露
3φ,400W,離心式
3φ,400W,離心式
8.7.控制面板控制器顯示屏、故障指示燈、累時(shí)器、USB或R232界面、超溫保護(hù)設(shè)定器、總電源開(kāi)關(guān)
8.8.機(jī)械室制冷機(jī)組、接排水裝置、排風(fēng)機(jī)。
8.9.配電控制柜總電源漏電斷路器、控制器、配電板、散熱風(fēng)機(jī)、高低溫循環(huán)風(fēng)機(jī)電機(jī)
8.10.加熱器鎳鉻合金電熱絲式加熱器
加熱器控制方式:無(wú)觸點(diǎn)等周期脈沖調(diào)寬,SSR(固態(tài)繼電器)
8.11.電源線孔及排水孔位于箱體背面
8.12.試驗(yàn)箱各部分名稱(chēng)和功能
序號(hào) 名稱(chēng) 功能
① 高溫室 用于儲(chǔ)存熱量
② 試驗(yàn)室 放置試樣做試驗(yàn)的部分
③ 低溫室 用于儲(chǔ)存冷量
④ 總電源板 包括總電源開(kāi)關(guān)、試樣電源控制端子、外部報(bào)警輸出端子、試驗(yàn)結(jié)束輸出端子、溫度到達(dá)輸出端子、RS-232通訊界面、操作面板蓋鎖
⑤ 操作板 包括控制器、故障指示燈、超溫保護(hù)設(shè)定器、溫度記錄儀(選購(gòu)件)
⑥ 配電室 安裝電氣元器件
⑦ 機(jī)械室 安裝制冷機(jī)組和排風(fēng)機(jī)
⑧ 進(jìn)氣口 在環(huán)境溫度曝露時(shí)吸進(jìn)外面的空氣
⑨ 排氣口 從機(jī)械室和試驗(yàn)室排出熱氣
⑩ 溫度記錄儀(選購(gòu)件)記錄溫度沖擊試驗(yàn)箱各室的溫度
溫度沖擊試驗(yàn)?zāi)康?溫度沖擊試驗(yàn)?zāi)康氖强疾毂辉嚇悠吩谕蝗辉獾綔囟葎×易兓瘯r(shí)之抵抗能力及適應(yīng)能力的試驗(yàn)高低溫沖擊試驗(yàn)主要用于考察剪切和疲勞損傷引起的失效。特別在元器件存在虛弱部位具有開(kāi)路隱患時(shí),或由于元器件材料和結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)不當(dāng)具有開(kāi)裂隱患時(shí),高低溫沖擊試驗(yàn)具有較好的鑒別效果。該實(shí)驗(yàn)一般用溫度沖擊試驗(yàn)箱。